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TESEQ GTEM 500，隔板高度 250 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 要求 符合EN 60118-13的理想測試設備 研發(fā)和預認證的理想選擇

TESEQ GTEM 250，隔板高度 500 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 要求 研發(fā)和預認證的理想選擇 多種濾波器選擇

TESEQ GTEM 1000，隔板高度 750 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 要求 研發(fā)和預認證的理想選擇 多種濾波器選擇

TESEQ GTEM 750，隔板高度 1000 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 要求 研發(fā)和預認證的理想選擇 多種濾波器選擇

TESEQ GTEM 1250，隔板高度 1250 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 要求 研發(fā)和預認證的理想選擇 多種濾波器選擇

TESEQ GTEM 2000，隔板高度 2000 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 標準研發(fā)和預認證的理想選擇多種濾波器選項

TESEQ GTEM 1750，隔板高度 1750 mm符合 IEC/EN 61000-4-20 要求 研發(fā)和預認證的理想選擇 多種濾波器選擇

TESEQ GTEM 250A SAE，帶有特殊開口的測試小室可以用大約45mm的隔板高度空間來測試集成電路符合 IEC/EN 61000-4-20, SAE J1752/3, IEC 62132-2 和 IEC 61967-2標準100 Watts 輸入功率場地電壓駐波比(VSWR) 可達到 18 GHz